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澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化

澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能譜儀，同時滿足形貌觀測及元素分析需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環境測量系統，將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位加熱。

ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產品介紹ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。原位拉伸臺參數載荷范圍：0-1000N位移分辨率：2

蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實現從微米到納米微加工的成像加工系統。