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產品簡介
具備最高性價比的 三維光學輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。
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流線型桌面式的ContourX系列，配備先進白光干涉模塊、快速自動聚焦和自動亮度調節、手動樣品臺及傾斜控制
具備最高性價比的 三維光學輪廓儀ContourX-100為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的**白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。新一代增強功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺，實現更多縫合功能，并新增一個測量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦學應用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱*****的臺式系統。
優異
Z向分辨率
提供不受放大率影響的一致的精準測量。
準確
計量值
簡化設計，不影響測量功能。
友好
軟件界面
提供對大量預編程過濾器和分析程序的直接調用。
特點
**計量能力
白光干涉所有物鏡均提供恒定的最佳垂直分辨率。
三維光學輪廓儀ContourX-100是布魯克 40 多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領域專有光學創新和****力的結晶。該系統利用三維 WLI 和二維成像技術，一次采集可執行多次分析。ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發揮穩定性能。
****的價值和分析
ContourX-100 手動平臺。
ContourX-100 臺式可執行數千種自定義分析，并采用布魯克簡單而強大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面，提升了實驗室和工廠的生產效率。軟硬件的**結合，實現簡便操作下的高效率光學性能，全面****計量技術。