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當前位置:首頁產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位解決方案PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統

產品簡介

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。

產品型號:
更新時間:2024-11-12
廠商性質:代理商
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PicoFemto NI-100 SEM納米力測量將納米壓痕儀集成進掃描電鏡中,使用戶可以在掃描電鏡中進行原位納米壓痕研究。該系統由一個三維壓電驅動的樣品臺和一個納米力測量探針組成。樣品安裝方式靈活多樣,可在三維納米位移臺的驅動下,達到超過5 mm的準確定位,定位分辨率優于100 nm,以使待測量區域準確對準力探針。

力探針同樣由壓電驅動,在軸向達到100 um的伸縮長度,位移分辨率優于0.25mm。由力傳感器準確測量所施加的力的載荷,可測拉力和壓力。并有不同的大量程的力傳感器可選配,達到很好的測量效果。通過搭配電學、光學、加熱等模塊,PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統還可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統基本技術參數表

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統

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PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統

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