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PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產品中心臺式電鏡&臺階儀&原位分析澤攸TEM原位解決方案PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
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力探針同樣由壓電驅動,在軸向達到100 um的伸縮長度,位移分辨率優于0.25mm。由力傳感器準確測量所施加的力的載荷,可測拉力和壓力。并有不同的大量程的力傳感器可選配,達到很好的測量效果。通過搭配電學、光學、加熱等模塊,PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統還可以實現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統基本技術參數表
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部分國外用戶